仪器型号：Tecnai G2 F20 S-Twin

加速电压：200 kV

电子枪：热场发射

TEM分辨率：点分辨率≤ 0.24 nm，线分辨率= 0.102 nm

STEM分辨率：≤ 0.19 nm

能谱仪分辨率：≤ 136 eV

TEM放大倍率：25 x - 1,030 kx

STEM放大倍率：150 x- 230 Mx

双倾杆最大倾转角：± 40°

主要功能：

该设备包含有TEM﹑HRTEM、STEM、EDS﹑SAED、3D-Tomography工作模式，可检测常规粉末材料的晶体结构和缺陷、纳米原子尺度的微观形貌、元素含量及分布等，也可对对磁性粉末材料；核壳结构和多层膜结构材料；微米和亚微米级纤维材料（比如炭纤维）；磁性块体金属材料、陶瓷和复合材料；空气和水蒸气敏感材料进行结构表征和解析。