俄歇电子能谱仪（AES）现已全面开放、进入正式运行阶段，用户即日起可登录中国科学院仪器设备共享管理平台（http://samp.cas.cn/）预约使用。  

　　AES和X-射线光电子能谱仪（XPS）同属于表面分析技术；AES可获得比XPS更浅、更表面的元素种类、成分及化学态信息。其优势在于分析区域可调控，小至几十纳米的点、大至毫米级的面，都可进行分析；可像扫描电镜（SEM）一样对样品定位，收集感兴趣微区表面形貌信息（图1（a）），同时获得样品微区表面元素分布情况（图1（b））和价态信息（图2）。此外，借助氩离子刻蚀还可以实现深度剖析（图3）。但是，目前AES不可实现准原位或者原位表征；需要真空传输样品，请与中心联系。 

　　AES数据可单独使用或与SEM-EDS、TEM-EDS和XPS等结果相互佐证，广泛应用于：电池/半导体结构分析^[1,2]，膜厚度分析^[3]，纳米颗粒/纳米管成分分析^[4,5]，晶格应变分析^[6]，多层膜扩散机制探究^[7]，界面反应机理^[8]以及缺陷形成机制^[9]研究等，同时可对微区腐蚀、污染情况进行分析，并有望为催化材料表面活性物质的分布提供依据。 

　　欢迎预约使用！

　　[1] Zhong XH, et al. Applied Surface Science, 2021,553:149564. 

　　[2] Guo LQ, et al. Applied Surface Science, 2018,444: 48–55. 

　　[3] Thomas Orvis, et al. Journal of Vacuum Science & Technology A, 2019, 37(6):061401. 

　　[4] K. Dawkins, et al. Applied Surface Science, 2015, 345:249–255. 

　　[5] Alexey Dronov, et al. Applied Surface Science, 2018, 434: 148–154. 

　　[6]Zhang LX, et al .Science, 2018, 361(6401): 494-497. 

　　[7] Yan XL, et al. Applied Surface Science, 2016, 364: 567–572. 

　　[8] Yan K, et al. Applied Surface Science , 2016, 390: 260–265. 

　　[9]Qao WQ, et al. Physical Chemistry Chemical Physics, 2016,18:4019-4025.