公共技术服务中心于10.13日上午于能源楼三层报告厅举办了‘分析技术大家讲’第二十讲：透射电镜（TEM）、扫描电镜(SEM)的基础及其应用，两位主讲人分别为中心透射电镜 JEM-2100F 仪器主管刘叶群和 扫描电镜 JSM-7900F 仪器主管师晶。
报告内容分为透射电镜基础及其应用和扫描电镜在材料和催化领域的应用和实例分析。刘叶群对 TEM的基本功能及样品制备、TEM成像理论、图像分析软件以及高分辨图像分析、）电子衍射谱标定、能谱分析的注意事项 以及TEM应用实例四部分内容进行了分享。师晶对扫描电镜的基础知识、低电压技术应用于形貌观察以及微区成分分析的方法及应用进行了分享介绍。公共技术服务中心于10.13日上午于能源楼三层报告厅举办了‘分析技术大家讲’第二十讲：透射电镜（TEM）、扫描电镜(SEM)的基础及其应用，两位主讲人分别为中心透射电镜 JEM-2100F 仪器主管刘叶群和 扫描电镜 JSM-7900F 仪器主管师晶。
报告内容分为透射电镜基础及其应用和扫描电镜在材料和催化领域的应用和实例分析。刘叶群对 TEM的基本功能及样品制备、TEM成像理论、图像分析软件以及高分辨图像分析、）电子衍射谱标定、能谱分析的注意事项 以及TEM应用实例四部分内容进行了分享。师晶对扫描电镜的基础知识、低电压技术应用于形貌观察以及微区成分分析的方法及应用进行了分享介绍。
师晶老师对扫描电镜基础知识进行了分享，对电子显微镜学的概念以及扫描电镜的组成及工作原理做了详细的介绍；并对中心的两个型号的扫描电镜做了对比，针对不同的样品介绍了对应的制备方法，样品制备原则，推荐了对应不同样品所需的测试方法，提高使用者获得高质量形貌的成功性。以及与平插能谱联用对微区成分、微区荧光分析的原理、流程及不同样品的实用案例。
最后师晶老师总结到：扫描电镜样品制备简单，图像立体感强，可观察多类样品，综合分析能力强；中心的7900F电镜低加速电压技术，可观察样品浅表面信息，得到高分辨率形貌像。
联用的平插能谱仪大立体角和高检出角设计，保证检测过程的高效率和高分辨率的面分布图。
在该讲座的下半场，刘叶群老师对透射电子显微镜（TEM）原理及应用进行了分享，从TEM可对纳米原子尺度进行微观形貌，可对界面结构、晶体结构进行分析，配合使用的能谱仪可对目标元素含量及分布进行检测,透射电镜与能谱仪联用对各领域的科研有重要的作用；分享会期间，对中心现服务的两台透射电子显微镜进行了详细的区分介绍。
作为总结，刘叶群老师道：根据自己的样品合格制样是获得清晰表征图像的前提。
“分析技术大家讲”第二十讲完美结束
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