尊敬的各用户：
每年度公共技术服务中心综合所内外各用户的意见和建议，以及所获得的财政支持和仪器故障情况等，进行测试项目和单价的调整。本年度将集中下调场发射透射电子显微镜（TEM）、X射线粉末衍射仪（XRD）、X射线光电子能谱仪（XPS）的测试项目和单价（具体如下）：
一、调整透射电镜测试项目及单价的说明
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仪器型号 |
JEM-2100F |
仪器主管 |
刘叶群 | |
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检测项目 |
计费标准 |
备注 | ||
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形貌像/高分辨像 |
800元/机时 |
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STEM |
1100元/机时 |
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能谱分析 |
点扫 |
120元/样 |
形貌像/高分辨像基础上另加 | |
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线扫/面扫 |
160元/样 |
形貌像/高分辨像基础上另加 | |
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仪器型号 |
FEI-TF20 |
仪器主管 |
陈帅 | |
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检测项目 |
计费标准 |
备注 | ||
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形貌像/高分辨像 |
700元/机时 |
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STEM |
1100元/机时 |
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能谱分析 |
点扫 |
120元/样 |
形貌像/高分辨像基础上另加 | |
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线扫/面扫 |
160元/样 |
形貌像/高分辨像基础上另加 | |
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仪器型号 |
JEM-2010 |
仪器主管 |
徐勤超 |
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检测项目 |
计费标准 |
备注 | |
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形貌像/高分辨像 |
500元/机时 |
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能谱分析（点扫） |
120元/样 |
形貌像/高分辨像基础上另加 | |
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透射电镜样品制备 | ||
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项目名称 |
计费标准 |
备注 |
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微栅/炭膜 |
30元/个 |
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非磁性纳米粉末制样 |
50元/样 |
含微栅/炭膜 |
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磁性纳米粉末制样 |
100元/样 |
含微栅/炭膜 |
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树脂包埋制样 |
200元/个 |
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离子减薄制样 |
200元/机时 |
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另：1）自主操作时：工作时间按基础机时*0.7计费，非工作时间按基础机时*0.5计费；
2）请根据测试样品特点和测试要求合理选择透射电镜型号（建议如下）
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透射电镜 |
特点 | ||||
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型号 |
分辨率 |
功能 |
辐照 损伤 |
价格 |
机时 宽松程度 |
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JEM-2010 |
点0.23nm 线0.14nm |
形貌 高分辨 衍射 能谱点扫 |
小 |
低 |
宽松 |
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JEM-2100F |
点0.19nm 线0.10nm STEM0.20nm |
形貌 高分辨 衍射 能谱点扫 能谱线扫 能谱面扫 STEM |
大 |
高 |
紧张 |
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FEITF20 |
点0.23nm 线0.10nm STEM0.19nm |
形貌 高分辨 衍射 能谱点扫 能谱线扫 能谱面扫 STEM |
大 |
较高 |
较宽松 |
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透射电镜型号选择说明： 1）仅需拍形貌像、能谱点扫、晶面间距大于0.23nm的高分辨像时，优先选择JEM-2010； 2）电子束辐照不稳定的样品，比如分子筛，优先选择JEM-2010； 3）需拍摄STEM/能谱线扫/面扫时，优先选择TF20，其次选择JEM-2100F； 4）主要拍摄晶面间距低于0.23nm的高分辨像，或块体金属样品物相分析时，优先选择JEM-2100F。 | |||||
二、下调X射线粉末衍射仪测试项目及单价的说明
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检测项目 |
计费标准 |
备注 | |
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数据处理 |
500元/样 |
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广角检测时，单个样品连续扫描时间 |
小于等于30分钟 |
120元/样，自主操作时80元/样 |
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大于30分钟 |
200元/样，自主操作时160元/样 |
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小角（0.5-10°） |
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150元/样，自主操作时120元/样 |
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三、调整X射线光电子能谱仪测试项目及单价的说明
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检测项目 |
计费标准及条件 |
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XPS采谱 |
300元/样（全谱+3个元素窄谱，每多1个窄谱加100元，每个窄谱参考20 ev范围，扫描次数≤10） |
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XPS俄歇谱 |
240元/谱 |
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XPS成像 |
400元/图 |
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XPS价带谱 |
320元/谱 |
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角分辨XPS |
400元/样，每个角度按一个样计 |
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Ar离子刻蚀表面清洁 |
400元/分钟/次 |
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Ar离子刻蚀深度剖析 |
1000元/分钟/次（全谱+3个窄谱，每多1个窄谱加150元） |
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原位XPS |
2800元/样（4个元素窄谱，每多1个窄谱加300元，每个窄谱参考20 ev范围，扫描次数≤10） |
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